武漢無(wú)損檢測(cè)試塊-東瑞模具公司(在線咨詢)

超聲波特點(diǎn)：

1.在空氣中不能傳播，遇到空氣100%反射。

2.超聲波在行經(jīng)介質(zhì)時(shí)，若遇到不同密度或彈性系數(shù)物質(zhì)時(shí)，即會(huì)產(chǎn)生反射回波的特性，而此種反射回波強(qiáng)度會(huì)因材料密度不同而有所差異。

超聲波檢測(cè)原理：

C-SAM檢測(cè)（超聲波檢測(cè)）即利用此特性來(lái)檢出材料內(nèi)部的缺陷并依所接收之訊號(hào)變化將之成像。

因此，只要被檢測(cè)的IC上表面或內(nèi)部晶片構(gòu)裝材料的界面有離層、空洞、裂縫等缺陷時(shí)，即可由C-SAM影像得知缺陷相對(duì)位置。

試塊的質(zhì)量控制規(guī)范

1.制作試塊前應(yīng)進(jìn)行質(zhì)量檢驗(yàn)，確保材料和設(shè)備符合要求。

2.制作試塊過(guò)程中需要抽檢，對(duì)切割面和尺寸進(jìn)行抽樣檢驗(yàn)，確保試塊的質(zhì)量。

3.對(duì)制作完的試塊進(jìn)行全l面檢驗(yàn)，包括外觀和尺寸檢測(cè)，確保試塊的合格率。

4.對(duì)試塊的質(zhì)量問(wèn)題和不合格品進(jìn)行記錄和處理，及時(shí)采取措施進(jìn)行糾正和改進(jìn)。

試塊制作規(guī)范對(duì)于確保試塊質(zhì)量和準(zhǔn)確性非常重要。在制作試塊時(shí)，應(yīng)根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范進(jìn)行操作， 嚴(yán)格控制尺寸、材料和工藝等方面的要求，保證試塊的質(zhì)量和合格率。同時(shí)，需要進(jìn)行質(zhì)量控制和質(zhì)量檢驗(yàn)，無(wú)損檢測(cè)試塊，及時(shí)發(fā)現(xiàn)和處理不合格品，以提高試塊的制作質(zhì)量和可靠性。

試塊種類很多，從不同的角度可將試塊分為不同的類別。

按試塊標(biāo)準(zhǔn)化程度分類

按試塊的標(biāo)準(zhǔn)化程度可以將試塊分為標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊：

（1）標(biāo)準(zhǔn)試塊：標(biāo)淮試塊是由權(quán)l(xiāng)威機(jī)構(gòu)制定的試塊，試塊材質(zhì)、形狀、尺寸及表面狀態(tài)都由權(quán)l(xiāng)威部門統(tǒng)一規(guī)定。國(guó)l際標(biāo)準(zhǔn)試塊和各個(gè)國(guó)l家的國(guó)l家標(biāo)準(zhǔn)試塊都是標(biāo)準(zhǔn)試塊。如國(guó)l際焊接學(xué)會(huì)IIW1試塊和IIW2試塊，又如我國(guó)的CSK-IA、日本的STB-G等試塊。

(2）對(duì)比試塊：對(duì)比試塊又稱參考試塊，是由各專l業(yè)部門按檢測(cè)對(duì)象的具體要求，對(duì)材質(zhì)、形狀、尺寸及表面狀態(tài)等作出規(guī)定的試塊。對(duì)比試塊與標(biāo)準(zhǔn)試塊并無(wú)本質(zhì)區(qū)別。如CS-1試塊、CSK-1A試塊等。

按試塊上人工反射體形狀分類

(1） 平底孔試塊：一般平底孔試塊上加工有底面為平面的平底孔，如CS-1、CS-2試塊。

（2）橫孔試塊：橫孔試塊上加工有與探測(cè)面平行的長(zhǎng)橫孔或短橫孔，如焊縫探傷中CSK-IA（長(zhǎng)橫孔）和CSK-IA(短橫孔）試塊。

（3） 槽形試塊：槽形試塊上加工有三角尖或矩形槽，如無(wú)縫鋼管探傷中的所用的試塊，內(nèi)、外圓表面就加工有三角尖槽。

按用途分類

按試塊的用途，可將其分為效驗(yàn)試塊和靈敏度試塊。

(1） 效驗(yàn)試塊：用于測(cè)試和效驗(yàn)探傷儀器的技術(shù)性能指標(biāo)的試塊，稱為效驗(yàn)試塊。如IIW試塊即是一種效驗(yàn)試塊。效驗(yàn)試塊多以其特定的邊緣作為反射面，因而這種試塊往往沒(méi)有人工缺陷。一般情況下，也叫定量試塊。一般對(duì)比試塊均作為靈敏度試塊使用。