景頤光電質(zhì)量可靠(圖)-后視鏡反射率測試儀-亳州反射率測試儀

反射率測試儀——廣州景頤光電科技有限公司是專門做反射率檢測儀的公司

全光譜反射率檢測儀

光譜遙感能快速無損獲取植被冠層信息，是實現(xiàn)作物長勢實時監(jiān)測的重要技術(shù)。不同氮磷水平下，冬小麥葉面積指數(shù)隨施肥量增加呈遞增趨勢，隨生育時期改變呈拋物線趨勢變化；隨著氮磷供應(yīng)量的增加，冠層光譜反射率在可見光波段顯著降低 2%～5%（P<0.05），在近紅外波段顯著增加 4%～10%（P<0.05）；不同生育時期葉面積指數(shù)與優(yōu)化土壤調(diào)整植被指數(shù)、增強型植被指數(shù)Ⅱ、新型植被指數(shù)、修正化差異植被指數(shù)、修正簡單比值植被指數(shù)均達極顯著相關(guān)（P<0.01）；拔節(jié)期、孕穗期、抽穗期、灌漿期和成熟期葉面積指數(shù)分別與優(yōu)化土壤調(diào)整植被指數(shù)、增強型植被指數(shù)Ⅱ、增強型植被指數(shù)Ⅱ、修正化差異植被指數(shù)和修正簡單比值植被指數(shù)擬合效果較好。

基于高光譜遙感監(jiān)測作物長勢已經(jīng)成為農(nóng)業(yè)研究熱點問題之一。由于作物和冠層光譜反射率受作物養(yǎng)分狀況和生育階段等因素影響而存在一定差異。

反射率檢測儀采用鹵素?zé)艄庠椿蜃贤馊庾V光源，光源輸出均勻穩(wěn)定，操作簡便，使用靈活，還可定制工業(yè)在線自動檢測方案。景頤光電反射率檢測儀采用積分球8°角測試方法，測定時間短，單次測試時間1秒內(nèi)。

歡迎咨詢景頤光電了解更多反射率測試儀

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硅片反射率檢測儀

硅片又稱晶圓片，是由硅錠加工而成的，通過專門的工藝可以在硅片上刻蝕出數(shù)以百萬計的晶體管，被廣泛應(yīng)用于集成電路的制造。

硅屬于半導(dǎo)體材料，其自身的導(dǎo)電性并不是很好。然而，汽車后視鏡反射率測試儀，可以通過添加適當(dāng)?shù)膿诫s劑來控制它的電阻率。制造半導(dǎo)體前，汽車觀后鏡反射率測試儀，必須將硅轉(zhuǎn)換為晶圓片。

加工硅片生成一個硅錠要花一周到一個月的時間，這取決于很多因素，包括大小、質(zhì)量和終端用戶要求，因此需要反射率檢測儀來測試其是否達到標(biāo)準。

景頤光電生產(chǎn)的反射率檢測系統(tǒng)采用鹵素?zé)艄庠椿蜃贤馊庾V光源，光源輸出均勻穩(wěn)定，亳州反射率測試儀，操作簡便，使用靈活，還可定制工業(yè)在線自動檢測方案。

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水果反射率測試儀生產(chǎn)廠家介紹反射率測量儀的構(gòu)成

反射率測量儀構(gòu)成

反射率測量儀由主機端、便攜式測試端和分析軟件構(gòu)成。主機端包括分光和AD轉(zhuǎn)換系統(tǒng)、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)和應(yīng)用操作軟件。便攜式測試端包括輔助垂直調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)和反射光譜數(shù)據(jù)采集光學(xué)系統(tǒng)，后視鏡反射率測試儀，實現(xiàn)佳垂直狀態(tài)下的自動數(shù)據(jù)采集。

主機端：包含開始測量、系統(tǒng)設(shè)置、屏幕亮度、參數(shù)設(shè)置四大功能模塊。

點擊開始測量按鈕，手持端即開始測量；系統(tǒng)設(shè)置包含光譜儀、光源、樣品、采集基準、系統(tǒng)日期、三軸角度等參數(shù)的設(shè)置；參數(shù)設(shè)置為現(xiàn)場實時校準提供快速設(shè)置功能。測量數(shù)據(jù)保存在主機端，可通過網(wǎng)絡(luò)端口和電腦連接用于儀器維護、數(shù)據(jù)、固件升級；點擊電源開關(guān)，會關(guān)閉程序和整個系統(tǒng)，并切斷電源。

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